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随着服务器的广泛应用，对服务器的可靠性提出了更高的要求。所谓“可靠性”，是产品在规定条件下和规定时间内完成规定功能的能力；反之，产品或其一部分不能或将不能完成规定的功能是出故障。故障率常用λ表示，例如正在运行中的100只硬盘，一年之内出了2次故障，则每个硬盘的故障率为0.02次/年。当产品的寿命服从指数分布时，其故障率的倒数叫做平均故障间隔时间（Mean Time Between Failures），简称MTBF。即：
MTBF=1/λ
假设一款可用于服务器的WD Caviar RE2 7200 RPM 硬盘，MTBF 高达 120万小时，保修 5年。120万小时约为137年，并不是说该种硬盘每只均能工作137年不出故障。由MTBF=1/λ可知λ=1/MTBF=1/137年，即该硬盘的平均年故障率约为0.7%，一年内，平均1000只硬盘有7只会出故障。

一个产品在设计、生产、材料、运输、保存和使用环境中存在各种不确定的因素，使得产品的寿命成为随机变量，对于随机出现问题的时间，可通过各种统计计算得出，通常MTBF有计算分以下三类。 [6]  
可靠性预计计算
预计产品MTBF的好处，先在产品设计阶段可以满足客户的制造要求:其次对生产方而言，可使其以少的费用对预计的产品的弱点进行关注和改进。
实验室试验结合理论计算
实验室的可靠性寿命评价具有一定的破坏性，因面不可能对所有的产品都进行试验，而且这样的工作量太大了。因此，通过实验室试验来获取试验样品的基本方法是，从同型号、同批次的一批产品中抽取一部分产品来进行试验，这些产品在可靠性术语中被称为“样本”，其中的每个产品被称为“样品”显然从概率统计的观点看，抽取的试验样品数量越多，越能真实地反映该批产品的可靠性水平。
现场失效数统计计算
产品在完成设计改进、准备批量生产之前，原则上需要通过部分样机进行实验室试验来评价产品的MTBF，再确定是否批量生产。而实际上，由于新产品在推出时间上的需要，不可能进行长时间的 MTBF试验。对于民用产品来说，实验室试验由于时间和费用的关系根本无法操作:对于部分产品来说，由于生产数景有限，不可能抽取过多的试验样品进行MTBF试验，这样通过少样品评价出的MTBF，其可信度是个大问题。

电子产品的寿命一般都符合浴盆曲线，可分为三个阶段：
1. 早夭期：由于设计，原材料，生产等可能出现的原因而导致一个较高失效率的阶段，也称失效率递减阶段，可通过环境应力筛选加以剔除，保证产品的可靠性。
2. 稳定期：这一阶段产品失效率近似一个常数，只有随机失效产生，MTBF即要得到这一阶段的寿命。
3. 耗损期：硬件故障期，产品这时已达到设计寿命，进入报废阶段。

MTBF是可修复产品可靠性的一种基本参数。度量方法为：在规定的条件下和规定的时间内,产品的寿命单位总数与故障总次数之比 [2]  。
MTBF值是产品设计时要考虑的重要参数，可靠度工程师或设计师经常使用各种不同的方法与标准来估计产品的MTBF值。相关标准包括MIL-HDBK-217F、Telcordia SR332、Siemens Norm、Fides或UTE C 80-810（RDF2000）等。不过这些方法估计到的值和实际的平均故障间隔仍有相当的差距。计算平均故障间隔的目的是为了找出设计中的薄弱环节。
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